中心議題：

• 用示波器進行電源噪聲測試

解決方法：

• 測量時讓波形占滿屏幕可有效減少量化誤差
• 需要選擇合適的探頭
• 測量小電源噪聲推薦使用50歐的輸入阻抗

當今的電子產品，信號速度越來越快，集成電路芯片的供電電壓也越來越小，90年代芯片的供電通常是5V和3.3V，而現(xiàn)在，高速IC的供電通常為2.5V, 1.8V或1.5V等等。對于這類電壓較低直流電源的電壓測試（簡稱電源噪聲測試），本文將簡要討論和分析。

在電源噪聲測試中，通常有三個問題導致測量不準確：
1.示波器的量化誤差；
2.使用衰減因子大的探頭測量小電壓；
3.探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大；

示波器存在量化誤差。實時示波器的ADC為8位，把模擬信號轉化為2的8次方（即256個）量化的級別，如果顯示的波形只占屏幕很小一部分，則增大了量化的間隔，減小了精度。準確的測量需要調節(jié)示波器的垂直刻度（必要時使用可變增益），盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動態(tài)范圍。圖一中藍色波形信號（C3）的垂直刻度是紅色波形（C2）四分之一，對兩個波形的上升沿進行放大（F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)），然后對放大的波形作長余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯（即量化級別），而右下部分波形F2的階梯較少（即量化級別更少）。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數(shù)，可以發(fā)現(xiàn)占滿屏幕的信號C2的測量參數(shù)統(tǒng)計值的標準偏差小于后者的。說明了前者測量結果的一致性和準確性。
通常測量電源噪聲，使用有源或者無源探頭，探測某芯片的電源引腳和地引腳，然后示波器設置為長余輝模式，最后用兩個水平游標來測量電源噪聲的峰峰值。這種方法有一個問題是，常規(guī)的無源探頭或有源探頭，其衰減因子為10，和示波器連接后，垂直刻度的最小檔位為20mV，在不使用DSP濾波算法時，探頭的本底噪聲峰峰值約為30mV。以DDR2的1.8V供電電壓為例，如果按5％來算，其允許的電源噪聲為90mV，探頭的噪聲已經接近待測試信號的1/3，所以，用10倍衰減的探頭是無法準確測試1.8V/1.5V等小電壓。在實際測試1.8V噪聲時，垂直刻度通常為5-10mV/div之間。

另外，探頭的GND和信號兩個探測點的距離也非常重要，當兩點相距較遠，會有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號回路中（如圖二所示），示波器觀察的波形包括了其他信號分量，導致錯誤的測試結果。所以要盡量減小探頭的信號與地的探測點間距，減小環(huán)路面積。 對于小電源的電壓測試，我們推薦衰減因子為1的無源傳輸線探頭。使用這類探頭時，示波器的最小刻度可達2mV/div，不過其動態(tài)范圍有限，偏移的可調范圍限制在+/-750mV之間，所以，在測量常見的1.5V、1.8V電源時，需要隔直電路（DC-Block）后再輸入到示波器。 如圖三為力科PP066探頭，該探頭的地與信號的間距可調節(jié)，探頭的地針可彈性收縮，操作起來非常方便。通過同軸電纜加隔直模塊后連接到示波器通道上。也可以把同軸電纜剝開，直接把電纜的信號和地焊接到待測試電源的電源和地上。在圖四中把SMA接頭的同軸電纜的一段剝開，焊接到了電腦主板的DDR2供電的1.8V上面，測量其電源噪聲。 如圖五所示為某光模塊的3.3V電源的噪聲。其噪聲的頻譜最高點的頻率為311.6KHz。這個光模塊輸出的1.25Gbps光信號的抖動測試中發(fā)現(xiàn)了同樣的312KHz的周期性抖動。在圖六中可以看到，把1.25G串行信號的周期性抖動分解后(Pj breakdown菜單)，發(fā)現(xiàn)312KHz的周期性抖動為63.7皮秒，在眼圖中也明顯可以觀察到抖動。通過這個案例說明，電源噪聲很可能導致一些高速信號的眼圖和抖動變差。對電源噪聲進行頻譜分析，能有效定位噪聲的來源，指引調試的方向。
在使用示波器測量電源噪聲時，為了保證測量精度，需要選擇足夠的采樣率和采集時間。

推薦采樣率在500MSa/s以上，這樣奈科斯特頻率為250M，可以測量到250MHz以下的電源噪聲。對于目前最普及的板級電源完整性分析，250M的帶寬已足夠。低于這個頻率的噪聲可以使用陶瓷電容、PCB上緊耦合的電源和地平面來濾波。而高于這個頻率的只能在封裝和芯片級的去耦措施來完成了。

波形的采集時間越長，則轉化為頻譜后的頻譜分辨率（即delta f）越小。通常我們的開關電源工作在10KHz以上，如果頻譜分辨率要達到100Hz的話，至少需要采集10ms長的波形，在500MSa/s采樣率時，示波器需要500MSa/s * 10 ms = 5M pts的存儲深度。