在現(xiàn)代電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中，為了確保產(chǎn)品順利通過(guò)EMC認(rèn)證、提升一次性通過(guò)率，工程師希望在設(shè)計(jì)、調(diào)試階段對(duì)被測(cè)電路進(jìn)行EMI特性測(cè)試，以便及時(shí)調(diào)整電路的參數(shù)和設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足相關(guān)EMI標(biāo)準(zhǔn)要求?，F(xiàn)代示波器作為工程師手頭最常用的調(diào)試工具，在帶寬、采樣率等時(shí)域測(cè)試指標(biāo)不斷提高的基礎(chǔ)上更添加硬件下變頻電路和獨(dú)特的FFT算法，從而能夠讓示波器具備強(qiáng)大的頻域分析功能。這使得工程師可以在做EMI調(diào)試時(shí)將干擾信號(hào)的頻譜與時(shí)域關(guān)聯(lián)起來(lái)，用多種方式隔離出故障，有效將突發(fā)的EMI問(wèn)題清晰捕獲。通過(guò)選通頻譜功能，在時(shí)域波形中移動(dòng)選通窗口，可以有效地定位突發(fā)EMI的發(fā)生規(guī)律，幫助工程師找到EMI問(wèn)題的真正原因.