在現(xiàn)代電子產(chǎn)品開發(fā)中，為了確保產(chǎn)品順利通過EMC認(rèn)證、提升一次性通過率，工程師希望在設(shè)計、調(diào)試階段對被測電路進(jìn)行EMI特性測試，以便及時調(diào)整電路的參數(shù)和設(shè)計，滿足相關(guān)EMI標(biāo)準(zhǔn)要求。現(xiàn)代示波器作為工程師手頭最常用的調(diào)試工具，在帶寬、采樣率等時域測試指標(biāo)不斷提高的基礎(chǔ)上更添加硬件下變頻電路和獨特的FFT算法，從而能夠讓示波器具備強(qiáng)大的頻域分析功能。這使得工程師可以在做EMI調(diào)試時將干擾信號的頻譜與時域關(guān)聯(lián)起來，用多種方式隔離出故障，有效將突發(fā)的EMI問題清晰捕獲。通過選通頻譜功能，在時域波形中移動選通窗口，可以有效地定位突發(fā)EMI的發(fā)生規(guī)律，幫助工程師找到EMI問題的真正原因.